Electron Devices, IEEE Transactions on

Abramo, A. ; Baudry, L. ; Brunetti, R. ; Castagne, R. ; Charef, M. ; Dessenne, F. ; Dollfus, P. ; Dutton, R. ; Engl, W.L. ; Fauquembergue, R. ; Fiegna, C. ; Fischetti, M.V. ; Galdin, S. ; Goldsman, N. ; Hackel, M. ; Hamaguchi, C. ; Hess, K. ; Hennacy, K. ; Hesto, P. ; Higman, J.M. ; Iizuka, T. ; Jungemann, C. ; Kamakura, Y. ; Kosina, H. ; Kunikiyo, T. ; Laux, S.E. ; Hongchin Lin ; Maziar, C. ; Mizuno, H. ; Peifer, H.J. ; Ramaswamy, S. ; Sano, N. ; Scrobohaci, P.G. ; Selberherr, S. ; Takenaka, M. ; Ting-Wei Tang ; Taniguchi, K. ; Thobel, J.L. ; Thoma, R. ; Tomizawa, Kazutaka ; Tomizawa, M. ; Vogelsang, T. ; Shiuh-Luen Wang ; Xiaolin Wang ; Chiang-Sheng Yao ; Yoder, P.D. ; Yoshii, A.

Fischetti, M.V. ; Fiegna, C. ; Sangiorgi, E. ; Selmi, L.

Okada, Yoshio ; Tobin, Philip J. ; Reid, Kimberly G. ; Hegde, Rama I. ; Maiti, Bikas ; Ajuria, Sergio A.

Koch, S. ; Waho, T. ; Mizutani, Takashi

Euisik Yoon ; Wise, K.D.

Shih-Hsien Lo ; Lee, Chien-Ping

Tohyama, S. ; Tanabe, A. ; Teranishi, N.

Yano, K. ; Ishii, Tomoyuki ; Hashimoto, T. ; Kobayashi, T. ; Murai, F. ; Seki, K.

Ku, P.S. ; Schroder, D.K.

Tahui Wang ; Huang, C. ; Chou, P.C. ; Chung, S.S.-S. ; Chang, T.-E.

Zhong-Shou Huang

Woltjer, Reinout ; Paulzen, Ger M.

Katoh, T.

Koiwa, I. ; Sawai, H.

Robinson, Stephen J. ; Aberle, A.G. ; Green, M.A.

Yamada, Toshishige ; Jing-Rong Zhou ; Miyata, H. ; Ferry, David K.

Selmi, L. ; Fiegna, C. ; Bez, R.

Mehrotra, M. ; Baliga, B.J.

Chang-Dong Kim ; Matsumura, Masakiyo

Sakui, K. ; Wong, S.S. ; Wooley, B.A.

Liu, T.M. ; Chin, G.M. ; Jeon, D.Y. ; Morris, M.D. ; Archer, V.D., III ; Johnson, R.W. ; Tarsia, M. ; Kim, H.H. ; Cerullo, M. ; Lee, K.F. ; Sung, J.J. ; Kei-Shun Lau ; Tzu-Yin Chiu ; Voshchenkov, A.M. ; Swartz, R.G.

Kyushik Hong ; Marsh, P.F. ; Geok-Ing Ng ; Pavlidis, D. ; Chang-Hee Hong

Haldar, S. ; Maneesha ; Khanna, M.K. ; Gupta, R.S.

Cho, Pak S. ; Cui, E.F. ; Goldhar, J. ; Lee, Chi H.

Apte, P.P. ; Saraswat, K.C.