Communications Magazine, IEEE

Lee, B.G. ; Siller, C. ; Gelman, A.

Frantz, R.

Frenkiel, R.

Bregni, S.

Jajszczyk, A. ; Wydrych, P. ; Rabinovitch, E. ; Mazurczyk, W.

Jones, M.L. ; Brungard, D. ; Helvoort, H.V. ; Mok, W.

Carroll, M. ; Roese, J. ; Ohara, Takuya

Gumaste, A. ; Krishnaswamy, N.

Ferrant, J.-L. ; Garner, G.M. ; Mayer, M. ; Rahn, J. ; Rodrigues, S. ; Ruffini, S.

Justesen, J. ; Larsen, K.J. ; Pedersen, L.A.

Au, E.K. ; Cavalcanti, D. ; Li, G.Y. ; Caldwell, W. ; Letaief, K.B.

Mueck, M. ; Piipponen, A. ; Kalliojärvi, K. ; Dimitrakopoulos, G. ; Tsagkaris, K. ; Demestichas, P. ; Casadevall, F. ; Pérez-Romero, J. ; Sallent, O. ; Baldini, G. ; Filin, S. ; Harada, H. ; Debbah, M. ; Haustein, T. ; Gebert, J. ; Deschamps, B. ; Bender, P. ; Street, M. ; Kandeepan, S. ; Lota, J. ; Hayar, A.

GwangZeen Ko ; Franklin, A.A. ; Sung-Jin You ; Jin-Suk Pak ; Myung-Sun Song ; Chang-Joo Kim

Chowdhury, K.R. ; Melodia, T.

Newman, T.R. ; Shajedul Hasan, S.M. ; DePoy, D. ; Bose, T. ; Reed, J.H.

Sutton, P.D. ; Lotze, J. ; Lahlou, H. ; Fahmy, S.A. ; Nolan, K.E. ; Ozgul, B. ; Rondeau, T.W. ; Noguera, J. ; Doyle, L.E.

Biagioni, E. ; Giordano, S.

Conti, M. ; Giordano, S. ; May, M. ; Passarella, A.

Lane, N.D. ; Miluzzo, E. ; Hong Lu ; Peebles, D. ; Choudhury, T. ; Campbell, A.T.

García-Martínez, A. ; Bagnulo, M. ; Van Beijnum, I.