IBM Journal of Research and Development

Hofstee, H.P. ; Nanda, A.K. ; Ritsko, John J.

Johns, C.R. ; Brokenshire, D.A.

Shimizu, K. ; Hofstee, H.P. ; Liberty, J.S.

Flachs, B. ; Asano, S. ; Dhong, S.H. ; Hofstee, H.P. ; Gervais, G. ; Kim, R. ; Le, T. ; Liu, P. ; Leenstra, J. ; Liberty, J.S. ; Michael, B. ; Oh, H.-J. ; Mueller, S.M. ; Takahashi, O. ; Hirairi, K. ; Kawasumi, A. ; Murakami, H. ; Noro, H. ; Onishi, S. ; Pille, J. ; Silberman, J. ; Yong, S. ; Hatakeyama, A. ; Watanabe, Y. ; Yano, N. ; Brokenshire, D.A. ; Peyravian, M. ; To, V. ; Iwata, E.

Riley, M.W. ; Warnock, J.D. ; Wendel, D.F.

Chen, T. ; Raghavan, R. ; Dale, J.N. ; Iwata, E.

Nanda, A.K. ; Moulic, J.R. ; Hanson, R.E. ; Goldrian, G. ; Day, M.N. ; D'Amora, B.D. ; Kesavarapu, S.

Liu, Y. ; Jones, H. ; Vaidya, S. ; Perrone, M. ; Tydlitat, B. ; Nanda, A.K.

Perez, J.M. ; Bellens, P. ; Badia, R.M. ; Labarta, J.

Black, C.T. ; Ruiz, R. ; Breyta, G. ; Cheng, J.Y. ; Colburn, M.E. ; Guarini, K.W. ; Kim, H.-C. ; Zhang, Y.