IBM Journal of Research and Development

Eisen, L. ; Ward, J.W. ; Tast, H.-W. ; Mading, N. ; Leenstra, J. ; Mueller, S.M. ; Jacobi, C. ; Preiss, J. ; Schwarz, E.M. ; Carlough, S.R.

Mehta, Hina

Le, H.Q. ; Starke, W.J. ; Fields, J.S. ; O'Connell, F.P. ; Nguyen, D.Q. ; Ronchetti, B.J. ; Sauer, W.M. ; Schwarz, E.M. ; Vaden, M.T.

Berridge, R. ; Averill, R.M., III ; Barish, A.E. ; Bowen, M.A. ; Camporese, P.J. ; DiLullo, J. ; Dudley, P.E. ; Keinert, J. ; Lewis, D.W. ; Morel, R.D. ; Rosser, T. ; Schwartz, N.S. ; Shephard, P. ; Smith, H.H. ; Thomas, D. ; Restle, P.J. ; Ripley, J.R. ; Runyon, S.L. ; Williams, P.M.

Curran, B. ; Fluhr, E. ; Paredes, J. ; Sigal, L. ; Friedrich, J. ; Chan, Y.-H. ; Hwang, C.

Floyd, M.S. ; Ghiasi, S. ; Keller, T.W. ; Rajamani, K. ; Rawson, F.L. ; Rubio, J.C. ; Ware, M.S.

Plass, D.W. ; Chan, Y.H.

Armstrong, W.J. ; Arndt, R.L. ; Marchini, T.R. ; Nayar, N. ; Sauer, W.M.

Mack, M.J. ; Sauer, W.M. ; Swaney, S.B. ; Mealey, B.G.

McCreary, H.-Y. ; Broyles, M.A. ; Floyd, M.S. ; Geissler, A.J. ; Hartman, S.P. ; Rawson, F.L. ; Rosedahl, T.J. ; Rubio, J.C. ; Ware, M.S.