Solid-State Circuits, IEEE Journal of

Alvandpour, A. ; Arimoto, K. ; Cantatore, E. ; Zhang, K.

Rusu, S. ; Simon Tam ; Muljono, H. ; Stinson, J. ; Ayers, D. ; Chang, Jonathan ; Varada, R. ; Ratta, M. ; Kottapalli, S. ; Vora, S.

Saito, H. ; Nakajima, M. ; Okamoto, T. ; Yamada, Y. ; Ohuchi, A. ; Iguchi, Noriyuki ; Sakamoto, T. ; Yamaguchi, K. ; Mizuno, M.

Tokunaga, C. ; Blaauw, D.

Joo-Young Kim ; Minsu Kim ; Seungjin Lee ; Jinwook Oh ; Kwanho Kim ; Hoi-Jun Yoo

Li-Fu Ding ; Wei-Yin Chen ; Pei-Kuei Tsung ; Tzu-Der Chuang ; Pai-Heng Hsiao ; Yu-Han Chen ; Hsu-Kuang Chiu ; Shao-Yi Chien ; Liang-Gee Chen

Iwata, K. ; Irita, T. ; Mochizuki, S. ; Ueda, H. ; Ehama, M. ; Kimura, M. ; Takemura, J. ; Matsumoto, K. ; Yamamoto, E. ; Teranuma, T. ; Takakubo, K. ; Watanabe, H. ; Yoshioka, S. ; Hattori, T.

Van Helleputte, N. ; Verhelst, M. ; Dehaene, W. ; Gielen, G.

Busson, P. ; Chawla, N. ; Bach, J. ; Le Tual, S. ; Singh, H. ; Gupta, V. ; Urard, P.

Kaul, H. ; Anders, M.A. ; Mathew, S.K. ; Hsu, S.K. ; Agarwal, A. ; Krishnamurthy, R.K. ; Borkar, S.

Yih Wang ; Bhattacharya, U. ; Hamzaoglu, F. ; Kolar, P. ; Yong-Gee Ng ; Liqiong Wei ; Ying Zhang ; Zhang, K. ; Bohr, M.

Uksong Kang ; Hoe-Ju Chung ; Seongmoo Heo ; Duk-Ha Park ; Hoon Lee ; Jin Ho Kim ; Soon-Hong Ahn ; Soo-Ho Cha ; Jaesung Ahn ; DukMin Kwon ; Jae-Wook Lee ; Han-Sung Joo ; Woo-Seop Kim ; Dong Hyeon Jang ; Nam Seog Kim ; Jung-Hwan Choi ; Tae-Gyeong Chung ; Jei-Hwan Yoo ; Joo Sun Choi ; Changhyun Kim ; Young-Hyun Jun

Kho, R. ; Boursin, D. ; Brox, M. ; Gregorius, P. ; Hoenigschmid, H. ; Kho, B. ; Kieser, S. ; Kehrer, D. ; Kuzmenka, M. ; Moeller, U. ; Petkov, P.V. ; Plan, M. ; Richter, M. ; Russell, I. ; Schiller, K. ; Schneider, R. ; Swaminathan, K. ; Weber, B. ; Weber, J. ; Bormann, I. ; Funfrock, F. ; Gjukic, M. ; Spirkl, W. ; Steffens, H. ; Weller, J. ; Hein, T.

Saito, M. ; Sugimori, Y. ; Kohama, Y. ; Yoshida, Y. ; Miura, N. ; Ishikuro, H. ; Sakurai, T. ; Kuroda, T.

Shiga, H. ; Takashima, D. ; Shiratake, S. ; Hoya, K. ; Miyakawa, T. ; Ogiwara, R. ; Fukuda, R. ; Takizawa, R. ; Hatsuda, K. ; Matsuoka, F. ; Nagadomi, Yasushi ; Hashimoto, D. ; Nishimura, H. ; Hioka, T. ; Doumae, S. ; Shimizu, S. ; Kawano, M. ; Taguchi, T. ; Watanabe, Y. ; Fujii, S. ; Ozaki, Tohru ; Kanaya, H. ; Kumura, Y. ; Shimojo, Y. ; Yamada, Y. ; Minami, Y. ; Shuto, S. ; Yamakawa, K. ; Yamazaki, S. ; Kunishima, I. ; Hamamoto, T. ; Nitayama, A. ; Furuyama, T.

Daly, D.C. ; Mercier, P.P. ; Bhardwaj, M. ; Stone, A.L. ; Aldworth, Z.N. ; Daniel, T.L. ; Voldman, J. ; Hildebrand, J.G. ; Chandrakasan, A.P.

Flatscher, M. ; Dielacher, M. ; Herndl, T. ; Lentsch, T. ; Matischek, R. ; Prainsack, J. ; Pribyl, W. ; Theuss, H. ; Weber, W.

Yoo, J. ; Long Yan ; Seulki Lee ; Yongsang Kim ; Hoi-Jun Yoo

Ramadass, Y.K. ; Chandrakasan, A.P.

Frank, M. ; Kuhl, M. ; Erdler, G. ; Freund, I. ; Manoli, Y. ; Muller, C. ; Reinecke, H.

Villard, P. ; Ebels, U. ; Houssameddine, Dimitri ; Katine, J. ; Mauri, D. ; Delaet, B. ; Vincent, P. ; Cyrille, M.C. ; Viala, B. ; Michel, J.-P. ; Prouvee, J. ; Badets, F.

Ruffieux, D. ; Krummenacher, F. ; Pezous, A. ; Spinola-Durante, G.