Micro, IEEE

Greenstein, Shane

Emer, Joel ; Tullsen, Dean

Seiler, L. ; Carmean, D. ; Sprangle, E. ; Forsyth, T. ; Dubey, P. ; Junkins, S. ; Lake, A. ; Cavin, R. ; Espasa, R. ; Grochowski, E. ; Juan, T. ; Abrash, M. ; Sugerman, J. ; Hanrahan, P.

Mutlu, O. ; Moscibroda, T.

Kim, J. ; Dally, W. ; Scott, S. ; Abts, D.

Kevin Lim ; Ranganathan, P. ; Jichuan Chang ; Patel, C. ; Mudge, T. ; Reinhardt, S.K.

Gurumurthi, S. ; Sankar, S. ; Stan, M.R.

Chen, S. ; Kozuch, M. ; Gibbons, P.B. ; Ryan, M. ; Strigkos, T. ; Mowry, T.C. ; Ruwase, O. ; Vlachos, E. ; Falsafi, B. ; Ramachandran, V.

Lucia, B. ; Devietti, J. ; Ceze, L. ; Strauss, K.

Tuck, J. ; Wonsun Ahn ; Torrellas, J. ; Ceze, L.

Wilkerson, C. ; Hongliang Gao ; Alameldeen, A.R. ; Chishti, Z. ; Khellah, M. ; Shih-Lien Lu

St.Amant, R. ; Jimenez, D.A. ; Burger, D.

Kursun, E. ; Chen-Yong Cher

Xiaoyao Liang ; Gu-Yeon Wei ; Brooks, D.

Stern, Richard H.

Mateosian, Richard