Communications Magazine, IEEE

Rad, C.

Rudin, H.

Bauer, C.

Eslambolchi, H.

Elmirghani, J.M.H.

Lu, W.W.

Daoben Li

Falchuk, B. ; Cheng, K.E. ; Lin, F.J. ; Pinheiro, B. ; Jokubaitis, V.

O'Brien, D.C. ; Faulkner, G. ; Jim, K. ; Zyambo, E.B. ; Edwards, D.J. ; Whitehead, M. ; Stavrinou, P. ; Parry, G. ; Bellon, J. ; Sibley, M.J. ; Lalithambika, V.A. ; Joyner, V.M. ; Samsudin, R.J. ; Holburn, D.M. ; Mears, R.J.

Chi-Chun Lo ; Bin-Wen Chuang

Al-Ghamdi, A.G. ; Elmirghani, J.M.H.

Ohtsuki, T.

Shafiq, B. ; Ghafoor, A. ; Baqai, S. ; Fahmi, H. ; Khokhar, A.

Yungsoo Kim ; Byung Jang Jeong ; Jaehak Chung ; Chan-Soo Hwang ; Ryu, J.S. ; Ki-Ho Kim ; Young Kyun Kim

Tavares, A. ; Valadas, R. ; Aguiar, Rui L. ; Duarte, A.O.

Solgaard, O. ; Lee, S. ; Kyoungsik Yu ; Krishnamoorthy, U. ; Li, K. ; Heritage, J.P.

Gozdecki, J. ; Jajszczyk, A. ; Stankiewicz, R.

Davis, C.C. ; Smolyaninov, I.I. ; Milner, S.D.

Shidong Zhou ; Ming Zhao ; Xibin Xu ; Jing Wang ; Yan Yao

Mechels, S. ; Muller, L. ; Morley, G.D. ; Tillett, D.