Electron Devices, IEEE Transactions on

Bakker, J.G.C.

Kozlowski, L.J. ; Williams, G.M. ; Sullivan, G.J. ; Farley, C.W. ; Anderson, R.J. ; Chen, J. ; Cheung, D.T. ; Tennant, William E. ; DeWames, Roger E.

Bethea, C.G. ; Levine, B.F. ; Shen, V.O. ; Abbott, R.R. ; Hseih, S.J.

Miyawaki, M. ; Ohmi, T.

Tsai, Y.T.

Mutoh, N. ; Morimoto, M. ; Nishimura, M. ; Teranishi, N. ; Oda, E.

Denda, M. ; Kimata, M. ; Iwade, S. ; Yutani, N. ; Kondo, T. ; Toubouchi, N.

Yamagishi, M. ; Negishi, M. ; Yamada, H. ; Tsunakawa, T. ; Shinohara, K. ; Ishimaru, T. ; Kamide, Y. ; Yamazaki, Y. ; Abe, H. ; Kanbe, H. ; Tomiya, Y. ; Yonemoto, K. ; Iizuka, T. ; Nakamura, S. ; Harada, K. ; Wada, K.

Nakamura, Y. ; Ohzu, H. ; Miyawaki, M. ; Tanaka, N. ; Ohmi, T.

Bakker, J.G.C. ; Esser, L.J.M. ; Peek, H.L. ; Sweeney, C.J. ; Kokshoorn, A.L. ; Theuwissen, A.J.P.

Kuriyama, Toshihiro ; Kodama, H. ; Kozono, T. ; Kitahama, Y. ; Morita, Y. ; Hiroshima, Y.

Tabei, M. ; Kobayashi, K. ; Shizukuishi, M.

Tohyama, S. ; Teranishi, N. ; Konuma, Kazuo ; Nishimura, M. ; Arai, K. ; Oda, E.

Stevens, E.G. ; Burkey, B.C. ; Nichols, D.N. ; Yee, Y.S. ; Losee, D.L. ; Lee, T.-H. ; Tredwell, T.J. ; Khosla, R.P.

Chen, C.K. ; Nechay, B. ; Tsaur, B.-Y.

Hojo, J. ; Naito, Y. ; Mori, H. ; Foujikawa, K. ; Kato, N. ; Wakayama, T. ; Komatsu, E. ; Itasaka, M.

Bailey, R.B. ; Kozlowski, L.J. ; Chen, J. ; Bui, D.Q. ; Vural, K. ; Edwall, D.D. ; Gil, R.V. ; Vanderwyck, A.B. ; Gertner, E.R. ; Gubala, M.B.

Bosiers, Jan T. ; Kleimann, A.C. ; Dillen, B.G. ; Peek, H.L. ; Kokshoorn, A.L. ; Daemen, N.J. ; van der Sijde, A.G. ; van Gaal, L.T.

Hynecek, J.

Okuyama, Masanori ; Togami, Y. ; Hamakawa, Yoshihiro ; Kimata, M. ; Denda, M.

Ozawa, N. ; Takahashi, K.

Matsunaga, Y. ; Yamashita, H. ; Manabe, S. ; Harada, N.

Matsumoto, K. ; Takayanagi, I. ; Nakamura, T. ; Ohta, Ryo

Matsumoto, K. ; Takayanagi, I. ; Nakamura, T. ; Ohta, Ryo

Toyoda, A. ; Suzuki, Y. ; Orihara, K. ; Hokari, Y.