Electron Device Letters, IEEE

Chiu, Hsien-Chin ; Shih-Cheng Yang ; Chien, Feng-Tso ; Chan, Yi-Jen

Javorka, P. ; Alam, A. ; Wolter, M. ; Fox, A. ; Marso, M. ; Heuken, M. ; Luth, H. ; Kordos, P.

Kuball, M. ; Hayes, J.M. ; Uren, M.J. ; Martin, T. ; Birbeck, J.C.H. ; Balmer, R.S. ; Hughes, B.T.

Byung Wook Han ; Jae Sin Lee ; Ahn, Byung Tae

Senzaki, J. ; Kojima, K. ; Harada, S. ; Kosugi, R. ; Suzuki, S. ; Suzuki, T. ; Fukuda, K.

Yi Tang ; Fedison, J.B. ; Chow, T.P.

Malm, B.G. ; Ostling, M.

Kamgar, Avid ; Vaidya, H.M. ; Baumann, F.H. ; Nakahara, S.

Choi, Yang-Kyu ; Tsu-Jae King ; Chenming Hu

Hong, Chao-Chi ; Chang, Chang-Yun ; Lee, Chaung-Yuan ; Hwu, Jenn-Gwo

Ting-Yen Chiang ; Banerjee, K. ; Saraswat, K.C.

Jiwei Chen ; Bingxue Shi

Ng, A.F.-L. ; Ko, P.K. ; Chan, M.

Ielmini, D. ; Spinelli, A.S. ; Lacaita, A.L. ; Modelli, A.

Dubois, E. ; Robilliart, Etienne

van Meer, H. ; de Meyer, K.

Lin, R. ; Qiang Lu ; Ranade, P. ; Tsu-Jae King ; Chenming Hu

Chen, C.L. ; Spector, S.J. ; Blumgold, R.M. ; Neidhard, R.A. ; Beard, W.T. ; Yost, D.-R. ; Knecht, J.M. ; Chen, C.K. ; Fritze, M. ; Cerny, C.L. ; Cook, J.A. ; Wyatt, P.W. ; Keast, C.L.

Pretet, J. ; Subba, N. ; Ioannou, D. ; Cristoloveanu, S. ; Maszara, W. ; Raynaud, C.