Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on

Inglis, B.D.

Ricketts, B.W.

Mellouet, B. ; Velasco, L. ; Achkar, J.

Okano, Y. ; Inoue, T.

De Bievre, P. ; Valkiers, S. ; Kessel, R. ; Taylor, P.D.P. ; Becker, P. ; Bettin, H. ; Peuto, A. ; Pettorruso, S. ; Fujii, K. ; Waseda, A. ; Tanaka, M. ; Deslattes, R.D. ; Peiser, H.S. ; Kenny, M.J.

Reymann, D. ; Witt, T.J. ; Vrabcek, P. ; Yi-hua Tang ; Hamilton, C.A. ; Katkov, A.S. ; Jeanneret, B. ; Power, O.

Nicolas, E. ; Lautru, D. ; Jacquin, F. ; Wong, M.F. ; Wiart, J.

Marx, R.

Yi-hua Tang ; Miller, W.B.

Afsar, M.N. ; Hanyi Ding

Ling Hao ; Peden, D.A. ; Macfarlane, J.C. ; Gallop, J.C.

Schurr, J. ; Melcher, J. ; von Campenhausen, A. ; Pierz, K. ; Hein, G. ; Ahlers, F.-J.

Paul, A. ; Rottger, S. ; Zimbal, A. ; Keyser, U.

Deaver, D. ; Miller, W.B. ; Pardo, L. ; Jaeger, K. ; Plowman, D. ; Hamilton, C.A.

Ilic, D. ; Butorac, J.

Migdall, A.L.

Beer, W. ; Eichenberger, A.L. ; Jeanneret, B. ; Jeckelmann, B. ; Schneiter, P.R.H. ; Pourzand, A.R. ; Courteville, A. ; Dandliker, R.

Kenny, M.J. ; Leistner, A.J. ; Walsh, C.J. ; Fen, K. ; Giardini, W.J. ; Wielunski, L.S. ; Netterfield, R.P. ; Ward, B.R.

Hassel, J. ; Seppa, H. ; Gronberg, L. ; Suni, I.

Corney, Andrew C.

Sasaki, H. ; Bubanja, V. ; Kiryu, S. ; Hirayama, Fuminori ; Maezawa, M. ; Shoji, A.

Jeckelmann, B. ; Rufenacht, A. ; Jeanneret, B. ; Overney, F. ; Pierz, K. ; von Campenhausen, A. ; Hein, G.

Svelto, C. ; Galzerano, Gianluca ; Onae, A. ; Bava, Elio

Fujii, Yusaku ; Miki, Y. ; Shiota, F. ; Morokuma, Tadashi