Proceedings of the IEEE

Moura, J.M.F. ; Puschel, M. ; Padua, D. ; Dongarra, J.

Frigo, M. ; Johnson, S.G.

Puschel, M. ; Moura, J.M.F. ; Johnson, J.R. ; Padua, D. ; Veloso, M.M. ; Singer, B.W. ; Xiong, J. ; Franchetti, F. ; Gacic, A. ; Voronenko, Y. ; Chen, K. ; Johnson, R.W. ; Rizzolo, N.

Baumgartner, G. ; Auer, A. ; Bernholdt, D.E. ; Bibireata, A. ; Choppella, V. ; Cociorva, D. ; Gao, X ; Harrison, R.J. ; Hirata, S. ; Krishnamoorthy, S. ; Krishnan, S. ; Lam, C. ; Qingda Lu ; Nooijen, M. ; Pitzer, R.M. ; Ramanujam, J. ; Sadayappan, P. ; Sibiryakov, A.

Demmel, J. ; Dongarra, J. ; Eijkhout, V. ; Fuentes, E. ; Petitet, A. ; Vuduc, R. ; Whaley, R.C. ; Yelick, K.

Lebak, J. ; Kepner, J. ; Hoffmann, H. ; Rutledge, E.

Choy, R. ; Edelman, A.

Guyer, S.Z. ; Lin, C.

Yotov, K. ; Xiaoming Li ; Ren, G. ; Garzaran, M.J. ; Padua, D. ; Pingali, K. ; Stodghill, P.

Kennedy, K. ; Broom, B. ; Chauhan, A. ; Fowler, R.J. ; Garvin, J. ; Koelbel, C. ; McCosh, C. ; Mellor-Crummey, J.

Franchetti, F. ; Kral, S. ; Lorenz, J. ; Ueberhuber, C.W.

Reed, D.A. ; Mendes, C.L.

Duesterwald, E.

Arnold, M. ; Fink, S.J. ; Grove, D. ; Hind, M. ; Sweeney, P.F.

Brittain, J.E.