Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2012 IEEE

Hiemstra, D.M.

Scott, K. ; Bird, J. ; Davies, R.

Cochran, D.J. ; Boutte, A.J. ; Dakai Chen ; Pellish, J.A. ; Ladbury, R.L. ; Casey, M.C. ; Campola, M.J. ; Wilcox, E.P. ; O'Bryan, M.V. ; LaBel, K.A. ; Lauenstein, J.-M. ; Batchelor, D.A. ; Oldham, T.R.

O'Bryan, M.V. ; LaBel, K.A. ; Pellish, J.A. ; Lauenstein, J.-M. ; Dakai Chen ; Marshall, C.J. ; Casey, M.C. ; Gigliuto, R.A. ; Sanders, A.B. ; Oldham, T.R. ; Kim, H.S. ; Phan, A.M. ; Berg, M.D. ; Marshall, P.W. ; Ladbury, R.L. ; Wilcox, E.P. ; Boutte, A.J. ; Musil, P.L. ; Overend, G.A.

Allen, G.R. ; Guertin, S.M. ; Scheick, L.Z. ; Irom, F. ; Zajac, S.

Allums, K.K. ; ONeill, P.M. ; Reddell, B.D. ; Bailey, C.R. ; Nguyen, K.V.

Irom, F. ; Agarwal, S.G.

Wert, J. ; Russell, D. ; Bartholet, B. ; Clemen, M. ; Koehn, J. ; Schasteen, B. ; Cannon, E. ; Cabanas-Holmen, M.

Egorov, A.N. ; Chumakov, A.I. ; Mavritskiy, O.B. ; Pechenkin, A.A. ; Koltsov, D. ; Yanenko, A.V.

Anashin, V.S. ; Kozyukov, A.E. ; Emeliyanov, V.V. ; Ozerov, A.I. ; Vatuev, A.S. ; Besetskiy, A.V. ; Skuratov, V.A. ; Bakerenkov, A.S. ; Belyakov, V.V.

Casey, M.C. ; Boutte, A.J. ; Campola, M.J. ; Carts, M.A. ; Wilcox, E.P. ; Marshall, C.J. ; Phan, A.M. ; Pellish, J.A. ; Powell, W.A. ; Xapsos, M.A.

Hofman, J. ; Sharp, R.

Guertin, S.M. ; Allen, G.R. ; Sheldon, D.J.

Koga, R. ; George, J. ; Bielat, S.

Irom, F. ; Nguyen, D.N. ; Allen, G.R. ; Zajac, S.A.

Lawrence, R.K.

Grürmann, K. ; Herrmann, M. ; Gliem, F. ; Schmidt, H. ; Leibeling, G. ; Kettunen, H. ; Ferlet-Cavrois, V.

Hafer, C. ; Von Thun, M. ; Mundie, M. ; Bass, D. ; Sievert, F.