SOI Conference (SOI), 2010 IEEE International

Mazure, Carlos

Clark, K. ; Magner, T. ; Lisano, M. ; Pappalardo, R.

Hill, R.J.W. ; Baraskar, A. ; Park, C. ; Barnett, J. ; Majhi, P. ; Jammy, R.

Chenming Hu

Chen, C.K. ; Wheeler, B. ; Yost, D.R.W. ; Knecht, J.M. ; Chen, C.L. ; Keast, C.L.

Sakai, H. ; O'uchi, S. ; Matsukawa, T. ; Endo, K. ; Liu, Y.X. ; Tsukada, T. ; Ishikawa, Y. ; Nakagawa, T. ; Sekigawa, T. ; Koike, H. ; Sakamoto, K. ; Masahara, M. ; Ishikuro, H.

Hiramoto, T. ; Mizutani, T. ; Kumar, A. ; Nishida, A. ; Tsunomura, T. ; Inaba, S. ; Takeuchi, K. ; Kamohara, S. ; Mogami, T.

Zuchowski, P.S. ; Bentlage, S.M. ; Kuemerle, M.W.

Pelloie, J.-L. ; Laplanche, Y. ; Hawkins, C. ; Kundu, R.

Tretz, C. ; Chen Guo ; Jacobowitz, L.

Popp, J.D. ; Kormanyos, B. ; Adams, M. ; Hurtado, A. ; Braatz, J. ; Wolfhausen, C. ; McKay, T.

Gianesello, F. ; Raynaud, C. ; Gloria, D. ; Rauber, B.

Cheng, K. ; Khakifirooz, A. ; Kulkarni, P. ; Ponoth, S. ; Kuss, J. ; Edge, L.F. ; Kimball, A. ; Kanakasabapathy, S. ; Schmitz, S. ; Reznicek, A. ; Adam, T. ; He, H. ; Mehta, S. ; Upham, A. ; Seo, S.-C. ; Herman, J.L. ; Johnson, R. ; Zhu, Y. ; Jamison, P. ; Haran, B.S. ; Zhu, Z. ; Fan, S. ; Bu, H. ; Sadana, D.K. ; Kozlowski, P. ; O'Neill, J. ; Doris, B. ; Shahidi, G.

Mazurier, J. ; Weber, O. ; Andrieu, F. ; Allain, F. ; Tabone, C. ; Toffoli, A. ; Fenouillet-Beranger, C. ; Brevard, L. ; Tosti, L. ; Perreau, P. ; Belleville, M. ; Faynot, O.

Vitale, S.A. ; Kedzierski, J. ; Wyatt, P.W. ; Renzi, M. ; Keast, C.L.

Van Den Daele, W. ; Le Royer, C. ; Augendre, E. ; Ghibaudo, G. ; Cristoloveanu, S.

Huang, R. ; Wang, R.S. ; Zhuge, J. ; Yu, T. ; Ai, Y.J. ; Fan, C. ; Pu, S.S. ; Zou, J.B. ; Wang, Y.Y.

Chun-Yu Chen ; Jyi-Tsong Lin ; Meng-Hsueh Chiang ; Keunwoo Kim

Chung-Hsun Lin ; Chang, J. ; Guillorn, M. ; Bryant, A. ; Oldiges, P. ; Haensch, W.

Tanaka, T. ; Fukushima, T. ; Lee, K.-W. ; Murugesan, M. ; Koyanagi, M.