Electronics System-Integration Technology Conference, 2008. ESTC 2008. 2nd

Vodjdani, N.

Yannou, J.-M.

Strickland, S.

Cochrane, P.

Charles, H.K., Jr. ; Sinnadurai, N.

Williams, D.R.

Sinnadurai, P.

Lewis-Brown, E. ; Reid, P.C. ; Andersson, A. ; Arthurton, R. ; Bates, N. ; Barange, M. ; Bathmann, U. ; Beaugrand, G. ; Berger, W. ; Bindoff, N. ; Cattle, H. ; Chisholm, P. ; Church, J. ; de Gusmao, D. ; Drange, H. ; Dye, S. ; Edwards, M. ; Fischer, A. ; Flueckiger, J. ; Furevik, T. ; Gascard, J.C. ; Hopcroft, R. ; Iglesias-Rodriguez, D. ; Le Quere, C. ; Le Tissier, M. ; Kasten, S. ; Kendall, M. ; Knutti, R. ; Mackenzie, F. ; Malin, G. ; Martinson, D. ; Maslowski, W. ; Matear, R. ; Mauritzen, C. ; Meredith, M. ; Paull, C. ; Pingree, R. ; Raven, J. ; Rintoul, S. ; Salter, I. ; Schmidt, G. ; Shimada, K. ; Sparrow, M. ; Stevens, D. ; Treguer, P. ; Tudhope, A. ; Turley, C. ; Visbeck, M. ; Vogt, M. ; Wallace, C. ; Zhaomin Wang ; Washington, R. ; Wood, R.

Wei, M.C. ; Chang, S.J. ; Lee, C.M. ; Chuang, R.W.

Yang Hongxing ; Lou Chengzhi ; Sun Liangliang

Conibeer, G.

Bauer, C.E. ; Neuhaus, H.J.

Di Francesco, R.

Dickerson, K. ; Dixon, J.

Ogunsola, A.

Ruesch, I. ; Yang Yang

Rouet, V. ; Moreau, K. ; Foucher, B.

Holland, S.W.

Vian, J.L.

Michael, A.T. ; Kumar, S. ; Mathew, S. ; Pecht, M.

Detert, M. ; Zeise, M. ; Wolter, K.-J.

Bak, M. ; Dudek, M. ; Dziedzic, A. ; Kita, J.

Xiaoyun Cui ; Hutt, D.A. ; Conway, P.P.

Yu, W. ; Cargill, S. ; Leonard, M. ; Desmulliez, M.P.Y.

Harant, P. ; Steiner, F. ; Stary, J. ; Stejskal, P.