Radiation Effects Data Workshop, 2008 IEEE

Hiemstra, D.M.

Cochran, D.J. ; Buchner, S.P. ; Sanders, A.B. ; LaBel, K.A. ; Carts, M.A. ; Poivey, C.F. ; Oldham, T.R. ; Ladbury, R.L. ; O'Bryan, M.V. ; Mackey, S.R.

O'Bryan, M.V. ; LaBel, K.A. ; Buchner, S.P. ; Ladbury, R.L. ; Poivey, C.F. ; Oldham, T.R. ; Campola, M.J. ; Carts, M.A. ; Berg, M.D. ; Sanders, A.B. ; Mackey, S.R.

Allen, G.R.

Oldham, T.R. ; Suhail, M. ; Friendlich, M.R. ; Carts, M.A. ; Ladbury, R.L. ; Kim, H.S. ; Berg, M.D. ; Poivey, C. ; Buchner, S.P. ; Sanders, A.B. ; Seidleck, C.M. ; LaBel, K.A.

Schmidt, H. ; Walter, D. ; Gliem, F. ; Nickson, B. ; Harboe-Sorensen, R. ; Virtanen, A.

Ladbury, R. ; Berg, M.D. ; LaBel, K.A. ; Friendlich, M. ; Phan, A. ; Kim, H.

Scheick, L. ; Guertin, S. ; Duc Nguyen

Miyahira, T.F. ; Irom, F.

Irom, F. ; Miyahira, T.F.

Seehra, S.S. ; Ditzler, A.J. ; Moyer, S.K.

Koga, R. ; Yu, P. ; George, J.

Lawrence, R.K.

Adams, D.A. ; Barnes, H.A. ; Fitzpatrick, M.D. ; Goldstein, N.P. ; Hand, W.L. ; Jackson, W.L. ; Koga, R. ; Pennock, M.B. ; Remenapp, H.J. ; Smith, J.T.

Hafer, C. ; Pfeil, J. ; Bass, D. ; Jordan, A. ; Farris, T.

Vera, A. ; Llamocca, D. ; Fabula, J. ; Kemp, W. ; Marquez, R. ; Shedd, W. ; Alexander, D.

Manuzzato, A. ; Gerardin, S. ; Paccagnella, A. ; Sterpone, L. ; Violante, M.

Swift, G.M. ; Allen, G.R. ; Chen Wei Tseng ; Carmichael, C. ; Miller, G. ; George, J.S.