Electron Devices Meeting, 1994. IEDM '94. Technical Digest., International

Koyanagi, M. ; Matsumoto, T. ; Shimatani, T. ; Balestera, F. ; Hiruma, Y. ; Okabe, M. ; Inoue, Y.

Izawa, T. ; Katsube, M. ; Yokoyama, Y. ; Hashimoto, K. ; Kawamura, E. ; Shimizu, A. ; Takagi, H. ; Inoue, F. ; Shimizu, H. ; Furumochi, K. ; Goto, H. ; Kawamura, S. ; Watanabe, K. ; Aoyama, K.

Takahashi, Y. ; Nagase, M. ; Namatsu, H. ; Kurihara, K. ; Iwdate, K. ; Nakajima, Y. ; Horiguchi, S. ; Murase, K. ; Tabe, M.

Hurm, V. ; Benz, W. ; Berroth, M. ; Fink, T. ; Fritzsche, D. ; Haupt, M. ; Hofmann, P. ; Kohler, K. ; Ludwig, M. ; Mause, K. ; Raynor, B. ; Rosenzweig, J.

Wang, H. ; Lai, R. ; Lo, D.C.W. ; Streit, D.C. ; Pospieszalski, M.W. ; Berenz, J.

Lanzerotti, L.D. ; St.Amour, A. ; Liu, C.W. ; Sturm, J.C.

Kaga, T. ; Sudoh, Y. ; Goto, H. ; Shoji, K. ; Kisu, T. ; Yamashita, H. ; Nagai, R. ; Iijima, S. ; Ohkura, M. ; Murai, F. ; Tanaka, T. ; Goto, Y. ; Yokoyama, N. ; Horiguchi, M. ; Isoda, M. ; Nishida, T. ; Takeda, E.

Tien, N.C. ; Daneman, M. ; Solgaard, O. ; Lau, K.Y. ; Muller, R.S.

Kato, M. ; Adachi, T. ; Tanaka, T. ; Sato, A. ; Kobayashi, T. ; Sudo, Y. ; Morimoto, T. ; Kume, H. ; Nishida, T. ; Kimura, K.

Lyon, D.B. ; Theiss, A.J.

Yi Liu ; Zhiping Yu ; Dutton, R.W. ; Deal, M.D.

Ming-Yih Kao ; Duh, K.H.G. ; Pin Ho ; Pane-Chane Chao

Suehiro, H. ; Ohori, T. ; Nakasha, Y. ; Miyata, T. ; Watanabe, Y. ; Kuroda, S. ; Takikawa, M.

Ono, H. ; Umemoto, Y. ; Ichikawa, H. ; Mori, M. ; Kudo, M. ; Kagaya, O. ; Imamura, Y.

Matsunaga, K. ; Okamoto, Y. ; Kuzuhara, M.

Higuchi, K. ; Kudo, M. ; Mori, M. ; Mishima, T.

Matsuda, S. ; Yoshino, C. ; Nakajima, H. ; Inou, K. ; Yoshitomi, S. ; Katsumata, Y. ; Iwai, H.

Senez, V. ; Collard, D. ; Ferreira, P. ; Baccus, B.

Jones, S.K. ; Poncet, A. ; De Wolf, I. ; Ahmed, M.M. ; Rothwell, W.J.

Uwasawa, K. ; Uchida, T. ; Ikezawa, T. ; Hane, M. ; Matsuki, T. ; Kato, H. ; Ishida, K.

Baccus, B. ; Vandenbossche, E.

van Dort, M.J. ; van der Wel, W. ; Slotboom, J.W. ; Cowern, N.E.B. ; Knuvers, M.P.G. ; Lifka, H. ; Zalm, P.C.

Rousseau, P.M. ; Griffin, P.B. ; Kuehne, S.C. ; Plummer, J.D.

Koike, H. ; Unno, Y. ; Ishimaru, K. ; Matsuoka, F. ; Kakumu, M.

Perera, A.H. ; Lage, C.S. ; Hayden, J.D. ; Jung-Hui Lin ; Rodriguez, R. ; Ajuria, S.